JP2016051146A — 光検出装置
Assigned to Ushio Denki KK · Expires 2016-04-11 · 10y expired
What this patent protects
【課題】光ファイバが劣化することを抑制できる光検出装置を提供する。 【解決手段】光検出装置３は、光ファイバ１１に向かう光Ｌ１を絞るべく、光Ｌ１１を遮る環状の絞り部３ａと、絞り部３ａに入射される光Ｌ１１の少なくとも一部を検出する検出部３２とを備える。前記絞り部は、光ファイバに入射される光を当該光ファイバのコア１１ａ内で全反射させるべく、絞られた後に光ファイバに入射される光Ｌ１２の入射角θ１が当該光ファイバの最大受光角θＭＡＸよりも小さくなるように、形成される。さらに、前記検出部で検出される光量に基づいて、前記光ファイバに入射される光量を演算する演算部３３ｂ…
USPTO Abstract
【課題】光ファイバが劣化することを抑制できる光検出装置を提供する。 【解決手段】光検出装置３は、光ファイバ１１に向かう光Ｌ１を絞るべく、光Ｌ１１を遮る環状の絞り部３ａと、絞り部３ａに入射される光Ｌ１１の少なくとも一部を検出する検出部３２とを備える。前記絞り部は、光ファイバに入射される光を当該光ファイバのコア１１ａ内で全反射させるべく、絞られた後に光ファイバに入射される光Ｌ１２の入射角θ１が当該光ファイバの最大受光角θＭＡＸよりも小さくなるように、形成される。さらに、前記検出部で検出される光量に基づいて、前記光ファイバに入射される光量を演算する演算部３３ｂを備える。 【選択図】図３
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