JP2008522171A — 分光光度計
Assigned to フォス・アナリティカル・エー／エス · Expires 2008-06-26 · 18y expired
What this patent protects
【課題】分光光度計を提供する。 【解決手段】分光光度計（２）は、サンプルホルダー（４）内のサンプルに向けて複数の波長の放射を発するように配置された、放射の好ましくは光放射の源（６）と、サンプルとのその相互作用後に放射を検出するための検出配置８とを備えている。サンプルホルダー（４）は、サンプルを通る発せられた放射のために複数の異なる経路長を提供するのに合している。演算ユニット（１０；１０ｂ）は、検出装置（８）からの出力に左右される強度を受け取るように操作可能に連結されており、二つの経路長のおのおのにおいて複数の異なる経路長の二以上の経路長においてその波長に…
USPTO Abstract
【課題】分光光度計を提供する。 【解決手段】分光光度計（２）は、サンプルホルダー（４）内のサンプルに向けて複数の波長の放射を発するように配置された、放射の好ましくは光放射の源（６）と、サンプルとのその相互作用後に放射を検出するための検出配置８とを備えている。サンプルホルダー（４）は、サンプルを通る発せられた放射のために複数の異なる経路長を提供するのに合している。演算ユニット（１０；１０ｂ）は、検出装置（８）からの出力に左右される強度を受け取るように操作可能に連結されており、二つの経路長のおのおのにおいて複数の異なる経路長の二以上の経路長においてその波長にインデックスが付けられた、検出された発せられた放射の強度値を格納し、かつインデックスが付けられた強度値の比に依存する値を計算し、それによって、関心のある物質の存在の反応に適合している 【選択図】
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