CN116929459B — 一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法
Assigned to Jiangsu Manwang Semiconductor Technology Co.,Ltd. · Expires 2023-12-05 · 2y expired
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本发明公开了一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法，属于电子设备测试技术领域。本发明包括：S10：对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度进行预测；S20：对电子设备内部各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测；S30：基于电子设备内部各电子器件的重要程度，对电子设备在各时刻发生故障的概率进行预测：S40：根据S30中预测的电子设备在各时刻发生故障的概率，选择是否向测试端界面发送预警信息。本发明通过对各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测，基于预测值能够在电子器件被大幅度腐蚀前对对应电子器件进行维修和保养处理，有利于提高电子设备的使用寿命，本发…
USPTO Abstract
本发明公开了一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法，属于电子设备测试技术领域。本发明包括：S10：对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度进行预测；S20：对电子设备内部各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测；S30：基于电子设备内部各电子器件的重要程度，对电子设备在各时刻发生故障的概率进行预测：S40：根据S30中预测的电子设备在各时刻发生故障的概率，选择是否向测试端界面发送预警信息。本发明通过对各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测，基于预测值能够在电子器件被大幅度腐蚀前对对应电子器件进行维修和保养处理，有利于提高电子设备的使用寿命，本发明相较于现有技术而言，对电子设备的测试结果更加精确。
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Bibliographic data sourced from FDA Orange Book + USPTO public records. Plain-English summary generated by AI grounded in source text. Patent term extensions (PTR, SPC, pediatric) may shift the effective expiry. Not legal advice.
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